Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)
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작성일 22-11-28 11:25본문
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시료 막대의 폭 a, 두께 b를 마이크로미터 또는 버니어 캘리퍼로, 두 받침날 사이의 간격l을 줄자로 여러 번 측정(測定) 하여 mean(평균)한다. 거울 G와 자 S사이의 거리를 줄자로 여러 번 측정(測定) 하여 그 mean(평균)을 L이라 한다
광학지레를 흰 종이 위에 놓고 살짝 눌러 3발의 자국을 내고 거울면에 평행한 2 발을 잇는 직선에 다른 한 발에서 수선을 내려 그 길이를 d라 하면 추 M1으로 인한 막대의 중심점의
강하 e1은 가 된다된다.
*이 실험의 포인트…(To be continued )
레포트/공학기술
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Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)에 대한 글입니다. 다음에 추를 목차로 내려 놓으면서y`4, y`3, y`2, y`1,y`0를 읽는다.
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Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)
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Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)에 대한 글입니다.
추 M1, M2, M3, M4, M5를 목차로 올려 놓으면서 그 때의 눈금 y1, y2, y3, y4, y5 를 읽는다.
각 추에 대응하는 막대의 중심점 강하를 식에 대입하여 Young률 y1, y2, y3, y4, y5 를 계산하고 mean(평균)하여 시료막대를 구성하는 물질의 Young률 Y를 결정한다.Ewing의장치에의한You , Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)공학기술레포트 ,
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다. y1 와 y`1의 mean(평균)을 라한다.